Publikace detail

Optical characterization of As-Ge-S thin films

Autoři: Stronski A.V. | Vlček Miroslav | Tolmachov I.D. | Pribylova H.

Rok: 2009

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

Název nakladatele: National Institute of Optoelectronics

Místo vydání: Bukurešť

Strana od-do: 1581-1585

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Charakterizace optických vlastností As-Ge-S tenkých vrstev	S využitím Swanepoelovy metody byly charakterizovány optické parametry tenkých vrstev o složení As12,6Ge23,8S63,6. Studium Ramanových spekter bulků a tenkých vrstev prokázalo přítomnost intrinsických nanoheterogenit. Byly rovněž vypočtem stanoveny nelineární optické vlastnosti, které jsou o dva řády vyšší oproti křemennému sklu	optické vlastnosti;chalkogenidové sklo;index lomu;optická nelinearita
eng	Optical characterization of As-Ge-S thin films	Optical characterization of As12.6Ge23.8S63.6 thin films was made from transmission spectra measurements using Swanepoel method. Spectral dependences of refractive index were well described by single oscillator model. Raman spectra of initial bulk glasses and evaporated films have shown the presence of the nanoscale intrinsic heterogeneities. Nonlinear optical properties of the films were estimated from optical parameters using different approaches and they were found to be more than two orders of magnitude higher then those of silica glasses	optical properties;chalcogenide glass;refractive index;optical nonlinearity

Vyhledávání