Publikace detail
Optical characterization of As-Ge-S thin films
Autoři:
Stronski A.V. | Vlček Miroslav | Tolmachov I.D. | Pribylova H.
Rok: 2009
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
Název nakladatele: National Institute of Optoelectronics
Místo vydání: Bukurešť
Strana od-do: 1581-1585