Publikace detail

Effect of thallium on the optical properties and structure of thin As-S-Tl films.

Autoři: Petkov Kiril | Todorov R | Kincl Miloslav | Tichý Ladislav

Rok: 2005

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

Název nakladatele: National Institute of Optoelectronics

Místo vydání: Bukurešť

Strana od-do: 2587-2594

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Vliv thalia na optické vlastnosti a strukturu tenkých vrstev As-S-Tl.	Pomocí tepelného vypařování byly napařeny tenké vrstvy ze systému )As2Se3)100-xTlx (X:0-15) na Si, grafit a substráty z optického skla BK-7. Z propustných a odrazivostních měření tenkých vrstev byly stanoveny index lomu, tloušťka vrstvy, optický gap, energie oscilátoru a disperzní energie před a po světelné expozici. Z infračervených spektroskopických měření se při 10%Tl objevuje ternární sloučenina TlAsS2.	chalkogenidové tenké vrstvy
eng	Effect of thallium on the optical properties and structure of thin As-S-Tl films.	Thin films from system (As2S3)100-xTl (x:0-15) were deposited by thermal evaporation on Si, graphite and optical glass substrates BK-7. From transmission and reflection measurements of the thin films, the refractive index, film thickness, optical band gap, oscilator energy and dispersion energy before and after exposure to light were determinated. From infrared spectroscopy measurements a ternary TlAsS2 compound appears 10%Tl.	chalcogenide thin films

Vyhledávání