Publikace detail
Optical measurements of silicon wafer temperature
Autoři:
Aoyama M | Postava K | Mistrík Jan | Yamaguchi T | Shio K
Rok: 2007
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Applied Surface Science
Název nakladatele: Elsevier Science BV
Místo vydání: Amsterdam
Strana od-do: 416-419