Publikace detail

Analysis of electronic parts within the scope of the ROHS and WEEE regulation

Autoři: Pouzar Miloslav | Krejčová Anna | Černohorský Tomáš

Rok: 2006

Druh publikace: článek ve sborníku

Název zdroje: Sborník příspěvků The Seventh European Meeting on Environmental Chemistry EMEC7

Název nakladatele: Vysoké učení technické v Brně

Místo vydání: Brno

Strana od-do: 207

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Analýza elektronických součástek pro potřeby norem ROHS a WEEE	Kryogenní mletí bylo použito jako metoda přípravy vzorku elektronických součástek k analýze pro potřeby RoHS a WEEE. Optimalizace doby chlazení, frekvence impaktoru a počtu mlecích cyklů byla prováděna s ohledem na výslednou distribuci velikosti částic v pomletém vzorku. Měření totálního obsahu Cr stejně tak jako stanovení Pb, Hg, Cd a Br v mletých vzorcích bylo prováděno pomocí rentgenfluorescenční spektrometrie. Výsledky XRF stanovení byly porovnány s výsledky získanými pomocí ICP OES (Pb, Cd a celkový Cr) po mikrovlnné mineralizaci vzorku a s výsledky stanovení Hg pomocí analyzátoru AMA 254.	ROHS, WEEE, ED XRF, elektronické součástky, kryogenní mletí
eng	Analysis of electronic parts within the scope of the ROHS and WEEE regulation	The cryogenic grinding was used as a method for a sample preparation of electronic parts. Optimisation of cooling time, impactor frequency and number of grinding cycles with the respect to final sample grain size distribution was performed. Total content of Cr as well as concentration of Pb, Hg, Cd and Br in ground samples was analysed wit the use of X-ray fluorescence spectrometry (WD XRF or ED XRF). The XRF results were compared with corresponding results of ICP OES (Pb, Cd, total Cr) after microwave digestion and AMA 254 mercury analyser results (Hg).	ROHS, WEEE, ED XRF, electronic parts, cryogenic grinding

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte