Publikace detail

Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate

Autoři: Švorčík Václav | Kolská Z | Luxbacher T | Mistrík Jan

Rok: 2010

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Materials Letters

Název nakladatele: Elsevier Science BV

Místo vydání: Amsterdam

Strana od-do: 611-613

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Vlastnosti Au nanovrstev naprašovaných na polyethyleneterephthalát	Byla provedena charakterizace tenkých Au filmů (20 nm) naprášených na polyethyleneterephthalátu (PET) a to měřením AFM, XRD, zeta potenciálu a spektroskopické elipsometrie. Naprášené Au filmy vykazují rozdílnou povrchovou morfologii a drsnost v porovnání s PET. Měřením XRD tenkých 20 nm Au vrstev bylo zjištěno, že Au krystalizuje ve směru (111) s mřížkovým parametrem a = 0.40769 nm, hustotou 19.338 gcm(-3) a mřížkovým napětím okolo 230 MPa. Měřením zeta potenciálu byla zjištěna vyšší povrchová vodivost Au/PET vrstvy. Tloušťka zlaté vrstvy zjištěná spektroskopickou elipsometrií 19.4 nm je v dobré shodě s tloušťkou vrstvy zjištěnou z AFM měření odhadnutou na 20 nm.	polyethyleneterephthalát; Au naprašované vrstvy; optické a povrchové vlastnosti; krystalická struktura
eng	Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate	AFM, XRD, zeta potential measurement and spectroscopic ellipsometry were used for characterization of thin (20 nm) Au films sputtered onto polyethyleneterephthalate (PET). Sputtered Au film shows significantly different Surface morphology and roughness in comparison with pristine PET. From XRD measurement of 20 nm thick sputtered Au layers it was found that Au crystalizes preferentially in (1 1 1) direction with lattice parameter of a = 0.40769 nm, density of 19.338 gcm(-3) and lattice stress of about 230 MPa. Higher surface conductance of Au/PET by zeta-potential measurement was found. Au layer thickness of 19.4 nm determined from spectroscopic ellipsometry was in good agreement with the AFM estimated value of 20 nm.	Polyethyleneterephthalate; Au sputtered layer; Optical and surface properties; Crystallic structure

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte