Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Electronic and atomic structure of amorphous thin films with high-resolution XPS: Examples of applications & limitations
Autoři: Kovalskiy Andriy | Golovchak Roman | Vlček Miroslav | Jain Himanshu
Rok: 2013
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Non-Crystalline Solids
Název nakladatele: Elsevier Science BV
Místo vydání: Amsterdam
Strana od-do: 155-158
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Elektronová a atomární struktura amorfních tenkých vrstev studována vysokorozlišovací XPS: Příklady aplikací a omezení. Je analyzována možnosst použití XPS spektroskopie pro studium tenkých filmů chalkogenidových skel. Je ukázáno, že tato metoda je vhodným nástrojem pro studium rozdílných chemických prostředí ve vrstvách a pro sledování chemického složení povrchu. Jsou uvedeny příklady použití metody ke studiu kinetiky rozpouštění stříbra v tenkých vrstvách a studium oxidace povrchu vrstev. Možnosti této metody jsou ukázány na příkladu fotoindukovaných strukturálních změn v tenkých vrstvách chalkogenidových skel. chalkogenidová skla; Rentgen fotoelektronová spektrokopie; tenké vrstvy
eng Electronic and atomic structure of amorphous thin films with high-resolution XPS: Examples of applications & limitations The use of high resolution X-ray photoelectron spectroscopy to study chalcogenide glass thin films is analyzed. It is shown that the method is an effective tool to explore different chemical environments in the films and control chemical composition of the surface. Examples of the method applications such as kinetics study of induced silver dissolution in the thin films and investigation of oxidation on the surface of the thin film are presented. Limitations of the method are shown on the example of photoinduced structural transformations in chalcogenide glass thin films. chalcogenide glass; X-ray photoelectron spectroscopy; thin films