Publikace detail

Crystal growth in Se70Te30 thin films followed by SEM and in situ XRD

Autoři: Martinková Simona | Barták Jaroslav | Málek Jiří | Segawa Hiroyo

Rok: 2016

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Applied Physics

Název nakladatele: American Institute of Physics

Místo vydání: Melville

Strana od-do: "145301-1"-"145301-7"

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Krystalový růst v Se70Te30 tenkých filmech sledovaný pomocí SEM a in situ XRD	Kinetika izotermní krystalizace v tenkých filmech Se70Te30 byla studována za použití SEM a in situ XRD. Z naměřených dat SEM byla vypočtena rychlost růstu krystalů v závislosti na teplotě. Z XRD dat byl stanoven kinetický mechanismus krystalizace včetně aktivační energie.	chalkogenidová skla; PCM; krystalizační kinetika; optické vlastnosti; Te-Se film
eng	Crystal growth in Se70Te30 thin films followed by SEM and in situ XRD	The isothermal crystal growth kinetics in Se70Te30 thin films was investigated using the microscopy and in situ X-ray diffraction (XRD) measurements. Plate-like crystals grew linearly with time which is the sign of liquid-crystal interface kinetics. In the studied temperature range, from 68 degrees C to 88 degrees C, crystal growth rates exhibit simple exponential behavior with an activation energy of crystal growth E-G = 168 +/- 12 kJ mol(-1). The growth data obtained from the microscopy measurements were combined with viscosity data, melting parameters and the appropriate crystal growth model was assessed. The relation between the kinetic coefficient of crystal growth and viscosity (u proportional to eta-(xi)) is described in detail, and a correction of the standard growth model is suggested. The crystal growth data obtained from the in situ XRD measurements were described using the Johnson-Mehl-Avrami nucleation-growth model with the Avrami exponent m = 2.2 +/- 0.2. The activation energy of the overall crystallization process EA was estimated and its value is 171 +/- 11 kJ mol(-1). Published by AIP Publishing.	chalcogenide glass; phase-change materials; crystallization kinetics; optical-properties; Te-Se film

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte