Publikace detail

Crystal growth from mechanically induced defects

Autoři: Svoboda Roman | Brandová Daniela

Rok: 2017

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry

Název nakladatele: Springer

Místo vydání: Heidelberg

Strana od-do: 799-808

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Růst krystalů z mechanicky indukovaných defektů	Krystalizační chování GeTe4 skla bylo studováno pomocí DSC a infračervené mikroskopie. Mikroskopie ověřila přítomnost krystalů vznikajících z mechanicky indukovaných defektů. Neizotermní a izotermní krystalizační DSC data byla dekonvoluována a identifikované subprocesy byly popsány odpovídajícími kinetickými modely.	nekrystalické materiály; optická mikroskopie; DSC; defekty; rekrystalizace
eng	Crystal growth from mechanically induced defects	For the first time, infrared microscopy was used to directly confirm the presence of crystallites originating from mechanically induced defects. Differential scanning calorimetry and infrared microscopy were used to study crystallization behavior of the GeTe4 glass. Both non-isothermal and isothermal DSC crystallization data were deconvoluted by state-of-the-art methods, and the identified sub-processes were described in terms of appropriate kinetic models. While the bulk samples showed zero-order (F0) crystallization kinetics, the GeTe4 powders exhibited complex kinetic behavior describable by competing Johnson-Mehl-Avrami and autocatalytic crystallization mechanisms. The concept of crystallization from mechanically induced defects was used to explain the difference in the kinetic behavior of bulk and powdered materials. Microscopic observation of two types of crystallites being present in a partially crystallized powder grain corresponds well to the occurrence of two crystallization mechanisms identified for the DSC data. The zero-order crystallization kinetics found for the DSC data of bulk samples was verified by microscopic crystal growth rate measurements.	Non-crystalline materials; Optical microscopy; DSC; Defects; Recrystallization

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte