Publikace detail
Spectroscopic ellipsometry investigation of electronic states and optical properties of thin films from Ge30AsxSe70-x system.
Autoři:
Todorov R. | Černošková Eva | Vlasová Martina | Hristova-Vasileva T. | Atanasova A. | Katrova V. | Černošek Zdeněk
Rok: 2020
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Non-Crystalline Solids
Strana od-do: 1-9