Publikace detail

Amorphous Ge-Sb-Se-Te chalcogenide films fabrication for potential environmental sensing and nonlinear photonics

Autoři: Halenkovič Tomáš | Baillieul Marion | Gutwirth Jan | Němec Petr | Nazabal Virginie

Rok: 2022

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Materiomics

Název nakladatele: Elsevier Science BV

Místo vydání: Amsterdam

Strana od-do: 1009-1019

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Výroba amorfních Ge-Sb-Se-Te chalkogenidových vrstev pro potenciální environmentální senzory a nelineární fotoniku	Kvarterní Ge-Sb-Se-Te tenké chalkogenidové vrstvy byly vyrobeny pomocí rf magnetronového naprašování z terčů Ge19Sb17Se64-xTex (x = 5, 10, 15, 20) za účelem výběru vhodného složení pro infračervené senzory a aplikace v nelineární optice. Byl studován vliv složení a parametrů depozice na optické vlastnosti, strukturu a smáčenlivost.	chalkogenid; tenké vrstvy; sklo; amorfní; optické vlastnosti; NLO; kontaktní úhly; naprašování; Raman
eng	Amorphous Ge-Sb-Se-Te chalcogenide films fabrication for potential environmental sensing and nonlinear photonics	Quaternary Ge-Sb-Se-Te chalcogenide thin films were fabricated by rf magnetron sputtering from Ge19Sb17Se64-xTex (x = 5, 10, 15, 20) sputtering targets in order to select appropriate compositions for infrared sensor and optical nonlinear applications. An influence of chemical composition and deposition parameters on the optical properties, structure and wettability was thus studied. The amorphous thin films seem to be constituted by selenide entities that can include tellurium atoms in variable proportion such as [GeSe4-xTex] and [SbSe3-xTex] (x = 0, 1, 2) and Ge(Sb)-Ge(Sb) bonds according to Raman spectroscopy. Contact angle measurements of the thin films showed values of 68-71 degrees for water and their surface energies in the range of similar to 36-39 mJ.m(-2) seem suitable for surface functionalization required for photonic sensor development. Furthermore, the maximum nonlinearity at the telecom wavelength with respect to the highest figure of merit value was found for the thin film with composition Ge19Sb17Se56Te8 having nonlinear refractive index of 28 x 10(-18) m(2).W-1. Due to their low optical bandgap energies, they may find their full interest for nonlinear optics in the mid-infrared range. Wide IR transparency in combination with high (non)linear refractive indices make these materials attractive in the field of mid-IR sensing and optical nonlinear devices.	chalcogenide; thin films; glass; amorphous; optical properties; NLO; contact angles; sputtering; Raman

Search

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte