Přístrojové vybavení

 

Aparatura pro měření charakteristik periodických i jednorázových elektrooptických dějů   1)

Videomikroskopy s možností obrazové analýzy  1)

Aparatura pro měření tepelné vodivosti LFA  –   Netzsch 2)

Oblouková pec pro syntézu vysokotavitelných materiálů (3000 °)  2)

Indukční pec pro syntézu vysoce čistých materiálů v tavenině (1800 °C) 2) 

Pec na tažení monokrystalů do 1000 °C Bridgmanovou metodou  2)

Horizontální odporové syntézní pece (1100 oC) 2)

Aparatura pro měření Seebeckova koeficientu v teplotním oboru –150 °C až +200 °C a 20 až 1000°C 2) 

Vysokoteplotní lis (2 000 °C, 10 t), kompaktace prášků a syntézy za vysokých teplot  2)

Spektroskopický elipsometr VASE (Woollam, Ltd.) pro 190 - 2 300 nm   3)

Spektroskopický elipsometr IR -VASE (Woollam, Ltd.) pro 1 700 - 33 000 nm  3)

Aparatura pro vytváření tenkých i nekovových vrstev napařováním ve vakuu  2)

 

 

 

Kontakt na pověřenou osobu:

1)  prof. Ing. Pirkl S., CSc.:  Slavomir.Pirkl@upce.cz
2)  prof. Ing. Drašar Č., Dr.: Cestmir.Drasar@upce.cz

3)  Mgr. Mistrík J., Ph.D.: Jan.Mistrik@upce.cz

 

 

 

 

Rozšířit fotografii: 
false